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冷熱沖擊試驗(yàn)箱原理標(biāo)準(zhǔn)分析

 
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最后更新: 2020-12-14 08:07
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公司基本資料信息
詳細(xì)說明
   冷熱沖擊試驗(yàn)箱原理可用于評(píng)估產(chǎn)品對(duì)環(huán)境溫度快速變化的適應(yīng)性。在設(shè)備設(shè)計(jì)和定型的鑒定測(cè)試以及批量生產(chǎn)階段的例行測(cè)試中,它是不可少的測(cè)試項(xiàng)目。在某些情況下,它也可以用于環(huán)境壓力篩選。??梢哉f,其在驗(yàn)證和改善設(shè)備的環(huán)境適應(yīng)性中的應(yīng)用頻率僅次于振動(dòng)和高低溫測(cè)試。環(huán)境測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)GJB150-86“軍事裝備環(huán)境測(cè)試方法”(以下簡(jiǎn)稱GJB150)和GB2423“電氣和電子產(chǎn)品基本環(huán)境測(cè)試規(guī)程”(以下稱為GB2423)以及美國(guó)軍事標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810F“環(huán)境工程考慮因素和實(shí)驗(yàn)室測(cè)試”(以下簡(jiǎn)稱810F)是獨(dú)立的測(cè)試項(xiàng)目。在這三個(gè)標(biāo)準(zhǔn)中,該測(cè)試項(xiàng)目的某些內(nèi)容甚至概念存在很大差異。
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  本文對(duì)以下三個(gè)標(biāo)準(zhǔn)中的測(cè)試項(xiàng)目進(jìn)行比較和分析:
  1.GJB150.5(1986)軍事裝備環(huán)境試驗(yàn)方法溫度沖擊試驗(yàn)
  目的:確定軍事裝備對(duì)周圍氣溫突然變化的適應(yīng)性
  適用產(chǎn)品等級(jí):設(shè)備
  2.MIL-STD-810F第二部分方法503.4(2001)“環(huán)境工程考慮因素和實(shí)驗(yàn)室測(cè)試”第二部分實(shí)驗(yàn)室測(cè)試方法溫度沖擊程序1.恒定極端溫度沖擊過程2.基于高溫循環(huán)的沖擊
  目的:確定設(shè)備是否可以承受環(huán)境空氣溫度的快速變化而不會(huì)造成物理損壞或性能下降。“快速變化”設(shè)置為“大于10度/分鐘”
  應(yīng)用產(chǎn)品級(jí)別:組件和設(shè)備
  3.GB2423.22-87(1987)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程,溫度變化試驗(yàn)方法Na,規(guī)定轉(zhuǎn)換時(shí)間的快速溫度變化試驗(yàn)Nb溫度變化試驗(yàn),指定溫度變化率Nc兩罐溫度快速變化試驗(yàn)
  目的:確定組件,設(shè)備和其他產(chǎn)品承受環(huán)境溫度快速變化的能力
  應(yīng)用產(chǎn)品級(jí)別:組件,設(shè)備和其他產(chǎn)品
  測(cè)試目的:
  三個(gè)系列標(biāo)準(zhǔn)的溫度沖擊測(cè)試中描述的測(cè)試目的基本相同,但表達(dá)方式略有不同。應(yīng)當(dāng)指出,這種表達(dá)方式略有不同。應(yīng)當(dāng)指出的是,這種表述相當(dāng)模糊和籠統(tǒng)。實(shí)際上,作為一種工具,將溫度沖擊測(cè)試應(yīng)用于產(chǎn)品開發(fā)和生產(chǎn)的不同階段時(shí)具有不同的目的。工程開發(fā)階段可用于查找產(chǎn)品設(shè)計(jì)和過程缺陷;產(chǎn)品定稿或設(shè)計(jì)鑒定和批量生產(chǎn)階段可用于難產(chǎn)品對(duì)溫度沖擊環(huán)境的適應(yīng)性,作為設(shè)計(jì)定稿和批量生產(chǎn)驗(yàn)收決策的基礎(chǔ);作為環(huán)境應(yīng)力篩選應(yīng)用程序的目的是消除產(chǎn)品的早期故障。因此,在開發(fā)過程的不同階段編制環(huán)境測(cè)試大綱或篩選大綱,測(cè)試報(bào)告或篩選報(bào)告時(shí),應(yīng)指定目的,而不是1、2和3。
  應(yīng)用對(duì)象
  三個(gè)系列標(biāo)準(zhǔn)中的溫度沖擊測(cè)試的應(yīng)用產(chǎn)品級(jí)別略有不同。GJB150法規(guī)僅適用于設(shè)備,而810F和GB2423中的法規(guī)可以適用于各種裝配級(jí)別,例如零部件,零件和設(shè)備。GJB150是根據(jù)美國(guó)軍事標(biāo)準(zhǔn)810C/D的兩個(gè)版本制定的。美國(guó)軍用標(biāo)準(zhǔn)系統(tǒng)中組件的溫度沖擊測(cè)試具有單獨(dú)的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-202F“電氣和電子組件環(huán)境測(cè)試方法”。我國(guó)還根據(jù)202F標(biāo)準(zhǔn),在202F標(biāo)準(zhǔn)的基礎(chǔ)上制定了環(huán)境試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)GJB360“電氣電子部件環(huán)境試驗(yàn)方法”。這兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)都有溫度沖擊測(cè)試子標(biāo)準(zhǔn)。因此,GJB150和810C/D中的溫度沖擊測(cè)試應(yīng)用產(chǎn)品僅限于設(shè)備。GB2423系列標(biāo)準(zhǔn)屬于歐洲電工委員會(huì)(IEC)標(biāo)準(zhǔn)體系。尚未發(fā)現(xiàn)在標(biāo)準(zhǔn)系統(tǒng)中單獨(dú)提供了組件的環(huán)境測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)。因此,GB2423中適用于各種組裝級(jí)別產(chǎn)品的規(guī)定是合理的。但是,810F中的規(guī)定也適用于與202F標(biāo)準(zhǔn)相抵觸且不夠合理的組件規(guī)定。迄今為止,尚未見到此類規(guī)定的解釋。
  應(yīng)用媒介
  GJB150和810F的溫度沖擊試驗(yàn)中使用的介質(zhì)僅限于空氣,而在GB2423溫度變化試驗(yàn)中,Na和Nb所使用的介質(zhì)也是空氣。Nc測(cè)試中使用的介質(zhì)是液體。使用哪種介質(zhì)主要取決于產(chǎn)品實(shí)際使用壽命中遇到的介質(zhì)類型。顯然,以液體為介質(zhì)的溫度沖擊試驗(yàn)更加嚴(yán)格。
  冷熱沖擊試驗(yàn)箱原理要求
  列出了測(cè)試室的三個(gè)系列標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)溫度沖擊測(cè)試的要求。因?yàn)樗鼈兌紝儆跍囟葴y(cè)試的類別,因?yàn)閷?duì)冷熱沖擊試驗(yàn)箱原理的要求與溫度試驗(yàn)箱相似,主要區(qū)別是溫度沖擊試驗(yàn)的增加是在測(cè)試中空氣溫度所需的時(shí)間將測(cè)試樣品放置在打開的盒子中后,盒子返回到指定的測(cè)試溫度。下面說明了各種要求。http://www.lysyx.com/xinwenzhongxin/jishuwenzhang/461.html
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