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少子壽命測試儀

 
單價: 面議
起訂:
供貨總量:
發(fā)貨期限: 自買家付款之日起 3 天內(nèi)發(fā)貨
所在地: 北京 通州
有效期至: 長期有效
最后更新: 2012-03-08 09:05
瀏覽次數(shù): 2534
 
公司基本資料信息
詳細說明
產(chǎn)品介紹:
HS-MWR-SIM無接觸少子壽命測試儀是一款功能強大的無接觸少子壽命測試儀,能夠?qū)尉Ч璋?、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、無損傷單點少子壽命測試,其通過微波光電衰退特性原理來測量非平衡載流子壽命的,并且單晶硅棒、多晶硅塊無須進行特殊處理。少子壽命測試量程從0.1μs到20ms,電阻率量程為>0.1Ω.cm,,是太陽能電池硅片企業(yè)、多晶鑄錠企業(yè)、拉晶企業(yè)不可多得的測量儀器。
產(chǎn)品特點
無接觸和無損傷測量
可移動掃描頭,便于測量
測試范圍廣:包括硅塊、硅棒、硅片等少子壽命測量
主要應(yīng)用于硅棒硅塊、硅片的進廠、出廠檢查,生產(chǎn)工藝過程中重金屬沾污和缺陷的監(jiān)控等
性價比高,極大程度地降低了企業(yè)的測試成本
質(zhì)保期:1年
推薦工作條件
溫度:15-30℃
濕度:10%~80%
大氣壓:750±30毫米汞柱
技術(shù)指標(biāo)
少子壽命測試范圍:0.1μs-20ms
測試尺寸:尺寸不限
測試時間:1-30s(具體和信號質(zhì)量及測試精度有關(guān))
電阻率范圍:>0.1Ω.cm
激光波長:980±30nm,測試功率范圍:50-500mw,脈沖寬度調(diào)節(jié)范圍:0.5-60μs
儀器測試精度:±3.5%
工作頻率:10GHz±0.5
微波測試單元功率:0.01W±10%
電源:~220V 50Hz    功耗<30W
掃描頭尺寸:290mm *200mm *65mm, 電器控制單元: 210mm*220mm*60mm
掃描頭重量:3KG,電器控制單元:1kg
典型客戶
河北,江西,江蘇,浙江,新疆等地拉晶鑄錠客戶。
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