隨著硅基集成電路在生活和科技中的普及,硅基的光電探測(cè)器也在光電子學(xué)領(lǐng)域展示出巨大的作用。通過(guò)與現(xiàn)有的納米加工技術(shù)相結(jié)合,硅基光電探測(cè)器的性能得到了大幅度的提高,然而現(xiàn)有的硅基光電探測(cè)器在調(diào)控和輸出性能優(yōu)化方面依然面臨著進(jìn)一步的挑戰(zhàn)。近年來(lái),綜合考慮半導(dǎo)體、光激發(fā)和壓電特性三者之間耦合的壓電光電子學(xué)效應(yīng)通過(guò)壓電半導(dǎo)體材料的壓電勢(shì)來(lái)調(diào)節(jié)和控制界面或者結(jié)區(qū)載流子的產(chǎn)生、分離、傳輸以及其他復(fù)合過(guò)程,從而實(shí)現(xiàn)對(duì)激光二激管、太陽(yáng)能電池、光探測(cè)器等多種光電子器件的調(diào)控輸出和性能增強(qiáng),但調(diào)控的極值效果一直未在實(shí)驗(yàn)中觀察到。
論文通訊作者王中林院士是中國(guó)科學(xué)院北京納米能源與系統(tǒng)研究所首席科學(xué)家,研究所是由中國(guó)科學(xué)院和北京市聯(lián)合共建的科研機(jī)構(gòu)。