朱會(huì)賓 博士 （中國(guó)科學(xué)院電工研究所）

在現(xiàn)有四種聚光器面形檢測(cè)方法中：攝影測(cè)量法、TOPHAT、激光偏折法及條紋反射法，條紋發(fā)射法由于其檢測(cè)系統(tǒng)設(shè)備簡(jiǎn)易、檢測(cè)精度高、檢測(cè)速度快等優(yōu)點(diǎn)受到了廣泛的關(guān)注。首先，介紹了基于相移技術(shù)和時(shí)間解包裹相位技術(shù)的條紋反射法的檢測(cè)原理；其次對(duì)檢測(cè)系統(tǒng)中涉及的系統(tǒng)標(biāo)定進(jìn)行了描述，同時(shí)基于Southwell模型的迭代算法對(duì)面形重構(gòu)進(jìn)行了分析。最后，搭建了檢測(cè)平臺(tái)，并開發(fā)了相應(yīng)的檢測(cè)軟件。(供稿：國(guó)家太陽能光熱產(chǎn)業(yè)技術(shù)創(chuàng)新戰(zhàn)略聯(lián)盟)