松下公司日前宣布，其生產(chǎn)的HIT太陽能電池模塊已由德國弗勞恩霍夫硅光伏中心（Fraunhofer Center for Silicon Photovoltaics）確認(rèn)不存在電位誘發(fā)衰減（potential induced degradation，PID）現(xiàn)象。
電位誘發(fā)衰減現(xiàn)象是指，在接地框架與太陽能電池單元之間存在外加電壓的狀態(tài)下，再加上高溫高濕等外部因素，在這種情況下發(fā)生的輸出下降現(xiàn)象。2012年6月，弗勞恩霍夫硅光伏中心公布了13家公司太陽能電池模塊相關(guān)測試結(jié)果，由此太陽能電池行業(yè)加緊采取相應(yīng)對策。不過，上述試驗并未包括松下的HIT太陽能電池模塊。

松下認(rèn)為，普通結(jié)晶硅型太陽能電池產(chǎn)生電位誘發(fā)衰減現(xiàn)象的直接原因，是太陽能電池單元表面的絕緣層帶電。而HIT太陽能電池單元表面采用的是透明導(dǎo)電膜，不采用絕緣層。因此弗勞恩霍夫硅光伏中心此次利用正負(fù)兩種電壓進(jìn)行了試驗。

具體而言，是使用10塊HIT太陽能電池模塊，在溫度為50℃、相對濕度為50％、正負(fù)電壓為1000伏的條件下