日本產(chǎn)業(yè)技術(shù)綜合研究所的光伏發(fā)電工學(xué)研究中心2012年5月24～25日在筑波國際會議中心舉行了成果報告會。會上發(fā)布了可抑制薄膜硅型太陽能電池光劣化的方法。


　　日本產(chǎn)綜研采用此次方法試制了薄膜硅型太陽能電池，發(fā)現(xiàn)該方法可將光劣化率抑制在10％、獲得9.6％的轉(zhuǎn)換效率。今后計劃通過改進光密封技術(shù)等，使轉(zhuǎn)換效率超過目前全球最高值的10.1％。

　　在薄膜硅型太陽能電池中做為發(fā)電層的非晶硅層，存在照射光線后特性就會劣化的“致命性問題”（產(chǎn)綜研）。這導(dǎo)致設(shè)置薄膜硅型太陽能電池模塊并照射光線后的轉(zhuǎn)換效率，普遍比剛制造完時降低19％左右。

　　光劣化的原因在于非晶硅層的成膜過程。利用以SiH4為原料的等離子CVD進行成膜時，等離子產(chǎn)生的高硅烷（HOS簇）會進入膜中，引起光劣化。

　　因此，日本產(chǎn)綜研將等離子CVD反應(yīng)器內(nèi)用網(wǎng)狀金屬隔開，使等離子區(qū)遠離基板。這樣擴散速度較慢的簇狀高硅烷就會被排出去，不會到達基板。

　　另外，此次方法的最大課題是成膜速度變慢。普通的成膜速度在0.3nm/sec左右，而此次方法則降至0.03nm/sec，僅為前者的1/10。據(jù)介紹，這點可通過增加氣體流量等改進措施加以改善。（記者：河合 基伸，《日經(jīng)電子》）