日前，日本產(chǎn)業(yè)技術(shù)綜合研究所（產(chǎn)綜研）在成果報(bào)告會(huì)上發(fā)布了將EL測(cè)定用于有機(jī)太陽能電池劣化原因分析的成果。具體內(nèi)容是，令有機(jī)太陽能電池EL發(fā)光，用TEM觀察不發(fā)光區(qū)域（暗點(diǎn)）的斷面。EL檢測(cè)采用了日本ITES可用激光標(biāo)記觀察區(qū)域的檢測(cè)裝置。

　　當(dāng)為在ITO上層疊PEDOT：PSS層、P3HT：PCBM層及Al電極的有機(jī)太陽能電池時(shí)，觀察其暗點(diǎn)的斷面會(huì)發(fā)現(xiàn)存在PEDOT：PSS塊。受其影響，斷面會(huì)存在P3HT：PCBM層局部變薄，或者PEDOT：PSS層有到達(dá)Al電極之處。PEDOT：PSS的這些異常會(huì)促使Al電極氧化，成為有機(jī)太陽電池劣化的一個(gè)原因。

　　此次的有機(jī)太陽能電池在形成時(shí)，在層積PEDOT：PSS層及P3HT：PCBM層等之后進(jìn)行了熱處理。此時(shí)存在PEDOT：PSS部分發(fā)生膨脹的可能性。產(chǎn)綜研稱利用EL檢測(cè)可有效分析太陽能電池的劣化原因，今后將繼續(xù)進(jìn)行分析。（記者：河合 基伸）