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供應(yīng)產(chǎn)品
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紅外探傷測(cè)試儀 NIR-01-3D紅外探傷測(cè)試儀NIR-01-3D型紅外探傷測(cè)試儀是采用歐洲CNC工程鋁合金材料，其表面都采用了高強(qiáng)度漆面和電氧化工藝保護(hù)，系統(tǒng) |
2012-03-08 |
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太陽(yáng)能電池量子效率測(cè)試儀 產(chǎn)品介紹:PH-IQE200為太陽(yáng)能電池光譜響應(yīng)測(cè)試，或稱量子效率QE（Quantum Efficiency）測(cè)試，或光電轉(zhuǎn)化效率IPCE (Monochromatic Incident |
2012-03-08 |
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晶片定向儀 產(chǎn)品介紹:SW-A100此型儀器是給晶片定向的專用儀器。用于晶棒切割后，進(jìn)行晶片的角度測(cè)量。采用手工上下晶片，自動(dòng)測(cè)量角度方式，可保證 |
2012-03-08 |
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線痕深度測(cè)試儀 產(chǎn)品介紹HS-SRT-301型硅片線痕深度測(cè)試儀可用于測(cè)試硅片的表面線痕深度，具有便于攜帶、觸摸屏便捷操作、液晶顯示、節(jié)能等優(yōu)點(diǎn)，同時(shí) |
2012-03-08 |
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