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線痕深度測試儀
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單價(jià): 面議
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發(fā)貨期限: 自買家付款之日起 3 天內(nèi)發(fā)貨
有效期至: 長期有效
最后更新: 2012-03-08 09:05
 
詳細(xì)信息

產(chǎn)品介紹
HS-SRT-301型硅片線痕深度測試儀可用于測試硅片的表面線痕深度,具有便于攜帶、觸摸屏便捷操作、液晶顯示、節(jié)能等優(yōu)點(diǎn),同時(shí)內(nèi)置打印機(jī)和充電電池,所有設(shè)計(jì)均符合JIS,DIN,ISO,ANSI等標(biāo)準(zhǔn)。
硅片表面線痕深度測試儀-產(chǎn)品特點(diǎn)
便于操作的觸摸屏
內(nèi)置打印機(jī)和充電電池
JIS/DIN/ISO/ANSI兼容36個評價(jià)參數(shù)和3個分析圖表
探針行程達(dá)350mm
具有統(tǒng)計(jì)處理功能
帶有SURFPAK-SJ軟件的PC連接端口
自動休眠功能可有效節(jié)約能源。
高分辨率液晶屏顯示粗糙度值
性價(jià)比高
菜單式快速方便設(shè)置
高分辨率液晶LCD顯示
硅片表面線痕深度測試儀-技術(shù)指標(biāo)
   檢測器測試范圍:350µm (-200µm to +150µm)

 
   檢測器檢測方式:微分感應(yīng)

 
   檢測器測力:4mN 或 0.75mN(低測力方式)

 
   顯示: 液晶顯示

   數(shù)據(jù)輸出: 通過RS-232C端口/SPC數(shù)據(jù)輸出

   電源: 通過AC適配器/電池(可更換)

   充電時(shí)間:15小時(shí)

 
   電池使用時(shí)間:最多可測600次

 
   檢測器尺寸(WxDxh):307×165×94mm

   檢測器重量:1.2kg

   驅(qū)動部尺寸(WxDxh):115 x 23 x 26mm

 
   驅(qū)動部重量:0.2kg


典型客戶
美國,歐洲,亞洲及國內(nèi)太陽能及半導(dǎo)體客戶。
詢價(jià)單
小微企業(yè)

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