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無接觸式測量 厚度 電阻率 TTV Bow\彎曲度 Warp\翹曲度 型號

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無接觸式 厚度 電阻率 手動
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型號: DSi2000
單價(jià): 面議
最小起訂量:
供貨總量:
發(fā)貨期限: 自買家付款之日起 3 天內(nèi)發(fā)貨
有效期至: 長期有效
最后更新: 2013-01-30 14:38
 
詳細(xì)信息


硅片要求     規(guī)格: 方片125×125mm 、156×156mm
         圓片 3"、4"、5"、6"、8"

測量功能 厚度: 單點(diǎn)及多點(diǎn)厚度
                TTV: 總厚度偏差
           體電阻率: 單點(diǎn)及多點(diǎn)電阻率
                TRV: 總體電阻率偏差

測量指標(biāo) 厚度 范圍: 150-1000μm 
   測量誤差:≤±1.0μm
   重復(fù)性1σ:≤0.2μm 

  TTV 范圍: 0.0-200.0μm
   測量誤差:≤±0.50μm
   重復(fù)性1σ:≤0.2μm
              電阻率 范圍: 0.1-30Ω.cm
   測量誤差:≤±3.0%*R
   重復(fù)性1σ:≤1.5%*R

設(shè)備尺寸  360mm(L)×350mm(W)×500mm(H)
 

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